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Guide utilisateur — non spécialiste

Balayage paramétrique

Au lieu de régler un motif de gravure à la main et de regarder ce que ça donne, on essaie les mille et une combinaisons d'un coup et on laisse l'outil désigner la meilleure. Ce guide explique le principe, le calcul qui tourne derrière, et comment lire la préconisation sans être thermicien.

Outil : Balayage paramétrique Version couverte : 2.2.0 Moteur thermique : 3.1.0 Puce de référence : 49 × 49 mm
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En bref

Le simulateur d'anisotropie thermique répond à « ce motif, il vaut quoi ? ». Très bien pour affiner, très lent pour explorer : chaque essai demande un réglage, un calcul, une lecture. Le balayage paramétrique retourne la question : parmi toutes les géométries de rainure fabricables, laquelle est la meilleure pour ce matériau ?

Il évalue en une passe 1 008 combinaisons — 12 largeurs de fente × 21 pas × 4 motifs — puis désigne l'optimum selon un curseur de priorité que vous réglez : plutôt conduire fort dans le bon sens, plutôt bloquer fort dans l'autre, ou un compromis entre les deux.

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À quoi ça sert

Deux usages concrets, dans cet ordre.

Cadrer avant de simuler. Avant d'ouvrir le simulateur d'anisotropie, on veut savoir dans quelle zone chercher : une fente de 90 µm ou de 200 µm ? un pas de 500 µm ou de 1 500 µm ? Le balayage donne cette réponse en quelques secondes, avec la courbe de compromis qui montre pourquoi l'optimum est là et pas ailleurs.

Comparer les quatre motifs à armes égales. Chaque design (droites, coniques, herringbone, hexagonal) a son meilleur réglage, qui n'est pas le même d'un design à l'autre. Les comparer sur un réglage arbitraire commun serait injuste ; le balayage compare chacun à son propre optimum.

Les bornes du balayage ne sont pas arbitraires : la borne basse de largeur de fente (90 µm) est la capacité de trait déclarée du procédé laser, et la plage de pas couvre ce qui reste dessinable sur une puce de 49 × 49 mm. Autrement dit, tout ce que l'outil propose est fabricable.

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Comment ça marche

Un balayage, pas une simulation

Résoudre 1 008 fois le solveur numérique complet prendrait plusieurs minutes et rendrait les curseurs inutilisables. L'outil procède donc en deux temps, et c'est la clé de sa rapidité comme de sa fiabilité.

base analytique composite lamellaire exacte à tout φ instantanée recalculée 1 008 fois × facteur de design design ÷ droites solveur numérique, 5 points de φ calibré une seule fois k_xx , k_yy anisotropie par combinaison le biais de résolution du solveur se simplifie dans le rapport design ÷ droites → des facteurs relatifs robustes, même là où la valeur absolue ne le serait pas
La partie exacte du calcul est refaite pour chaque combinaison ; la partie coûteuse — le solveur numérique du motif — n'est jouée qu'une fois, sur 5 points de calibration, et sert à corriger la base. Détail des formules au §08.

La base analytique est la solution exacte d'un empilement de bandes alternées matière / fente : parallèle dans le sens des bandes, série en travers. Elle est fiable à toutes les proportions de fente, y compris les plus fines — là, justement, où le solveur numérique devient sensible à la finesse de sa grille.

Le facteur de design répond à « de combien ce motif fait-il mieux (ou moins bien) que des fentes droites, à proportion évidée égale ? ». C'est un rapport, et un rapport de deux calculs faits avec la même grille : les imprécisions communes se compensent. On garde donc l'information utile — le classement des designs — sans hériter des faiblesses du solveur en valeur absolue.

La courbe de compromis

Le paramètre qui gouverne tout est la fraction évidée φ : la largeur de fente divisée par le pas. Élargir les fentes (φ grand) bloque de mieux en mieux le sens y — l'anisotropie grimpe — mais retire de la matière, donc la conduction dans le sens x s'effondre. Réduire les fentes fait l'inverse. Il n'existe pas d'optimum absolu : il y a une courbe de compromis, et un choix à faire dessus.

k_xx anisotropie fraction évidée φ = largeur de fente ÷ pas fentes fines fentes larges optimum au réglage de priorité courant ← le curseur de priorité déplace l'optimum le long de l'axe
Allure typique (schématique). Les deux objectifs sont directement antagonistes : c'est le curseur de priorité qui tranche, et l'outil affiche toujours en référence les deux extrêmes — la combinaison de conduction maximale et celle d'anisotropie maximale — pour situer la préconisation entre les deux.

Puis le retour au système réel

Les chiffres ci-dessus concernent le film seul. Sur la puce, ce film repose sur un substrat EFFIBLUE beaucoup plus épais, qui conduit dans toutes les directions et vient donc « diluer » l'anisotropie durement gagnée. Le panneau de droite affiche les trois nombres qui comptent : anisotropie du film, anisotropie du système, et le facteur de dilution entre les deux. C'est très souvent là que se joue la faisabilité réelle du design, bien plus que dans le choix du motif.

Deux leviers agissent sur cette dilution, tous deux réglables : amincir le substrat, et rainurer le substrat dans l'alignement des fentes du film. Sans l'un ou l'autre, l'anisotropie système reste proche de 1 quel que soit le motif choisi.

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Les hypothèses du modèle

Régime permanent

Toutes les grandeurs sont des conductivités en régime établi. L'outil ne dit rien du temps de propagation de la chaleur — c'est le rôle du comparateur de diffusion thermique. Conséquence directe : la capacité calorifique des matériaux n'intervient pas dans ce calcul (voir le nota bene, §09).

Motif infini et régulier

Comme le simulateur d'anisotropie, le calcul suppose un motif qui se répète à l'identique ; les effets de bord de puce ne sont pas modélisés.

Anisotropies affichées = idéal sans pont

Le balayage ne modélise pas les ponts de jonction. Or ceux-ci, indispensables à la tenue mécanique, court-circuitent le sens bloqué : sur le simulateur complet, l'anisotropie réelle d'un film retombe typiquement autour de ×100. Les valeurs du balayage sont donc à lire comme un classement entre configurations, pas comme la performance finale.

Effet de taille : la paroi ne limite jamais

Quand la correction phonons est activée, la longueur caractéristique retenue est l'épaisseur du film seule. C'est légitime ici parce que la paroi résiduelle entre deux fentes fait au minimum 300 µm sur tout le domaine balayé — mille fois plus qu'un film typique. Le simulateur d'anisotropie, lui, prend le minimum des deux, parce que son domaine de réglage permet des parois bien plus fines.

Substrat EFFIBLUE fixé à 25 W/m·K

Seuls l'épaisseur du substrat et son taux de rainurage sont réglables ici ; sa conductivité est figée à la valeur EFFIBLUE de référence. Pour la faire varier, passer au simulateur d'anisotropie.

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Limites

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Comment l'utiliser, pas à pas

  1. Choisir le matériau du film — le sélecteur est alimenté par le même catalogue serveur que les deux autres outils thermiques. Changer de matériau relance la calibration avec la bonne conductivité : le classement des designs peut en être modifié.
  2. Régler la priorité — le curseur va de « conduction maximale dans le sens x » à « anisotropie maximale », en passant par tous les compromis. C'est le seul réglage vraiment subjectif de l'outil : il encode ce que vous cherchez.
  3. Choisir le milieu de fente — air, vide poussé ou aérogel. Le vide pousse l'anisotropie nettement plus haut que l'air, à motif identique.
  4. Régler l'épaisseur du film — saisie libre de 0,3 nm (une monocouche de graphène) à 200 µm (un film diamant CVD épais).
  5. Régler le substrat — épaisseur, et éventuellement taux de rainurage aligné. Ces deux réglages n'affectent que le bloc « niveau système » ; ils ne déplacent pas l'optimum géométrique.
  6. Lancer le balayage — la calibration part au serveur, le reste se calcule dans le navigateur. Ensuite, bouger les curseurs de priorité, d'épaisseur ou de rainurage met tout à jour sans nouvel aller-retour réseau : c'est immédiat.
  7. Lire la préconisation, la courbe et le nuage de Pareto (§06), puis exporter le CSV si la comparaison doit être archivée ou partagée.
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Lire les résultats

Préconisation
Le design, la largeur de fente et le pas qui maximisent la figure de mérite au réglage de priorité courant. Bougez la priorité : la préconisation se déplace, c'est normal et c'est le principe.
φ (phi)
La fraction évidée de la configuration retenue — largeur ÷ pas. Le paramètre unique dont dépend toute la physique du motif.
k_xx
Conduction effective dans le sens favorisé, en W/m·K, avec entre parenthèses le pourcentage du matériau massif qu'il en reste.
k_yy
Conduction résiduelle dans le sens bloqué. Très petite par construction — c'est le but.
Anisotropie
Le rapport k_xx/k_yy. Sans les ponts (voir §03) : à lire comme un classement, pas comme la valeur finale.
Courbe de compromis
k_xx (axe gauche, linéaire) et anisotropie (axe droit, logarithmique) en fonction de φ, pour le design préconisé. L'optimum y est marqué.
Nuage de Pareto
Une pastille par combinaison, colorée par design. Haut-droite = idéal. Utile pour voir d'un coup si un design domine vraiment ou si les nuages se chevauchent.
Anisotropie système
Ce qu'il reste de l'anisotropie une fois le substrat pris en compte. En dessous de ×3, l'outil affiche un avertissement : le motif ne se « voit » plus au niveau de la puce.
Facteur de dilution
De combien le substrat écrase l'anisotropie du film. Le levier pour le réduire, c'est l'épaisseur ou le rainurage du substrat, pas la géométrie des fentes.
Meilleure config par design
Le tableau comparatif : l'optimum propre à chacun des quatre motifs, trié par figure de mérite. La ligne surlignée est la préconisation.
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Export & partage

Résultats (CSV) — les 1 008 combinaisons balayées, une ligne chacune : design, largeur de fente, pas, φ, k_xx, k_yy, anisotropie. C'est le balayage brut, pas seulement l'optimum : de quoi refaire ses propres tris, tracer d'autres compromis dans un tableur, ou archiver la campagne telle qu'elle a été calculée.

Il n'y a volontairement pas d'export de réglages ni de fichier de gravure ici : l'outil sert à choisir une géométrie, pas à la produire. Le motif retenu se rejoue et s'exporte en Gerber depuis le simulateur d'anisotropie thermique.

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Les calculs, formule par formule

Cette section est la référence technique du guide : elle décrit les formules réellement exécutées, dans l'ordre, et justifie chaque choix de modèle. Elle n'est pas nécessaire pour se servir de l'outil.

Notations

k
conductivité thermique du film massif, W/(m·K) — issue du catalogue matériaux
k_gap
conductivité du milieu de fente : air 0,026 · vide 0,001 · aérogel 0,015 W/(m·K)
t_f , t_s
épaisseurs du film et du substrat
Λ
libre parcours moyen des phonons du matériau, nm
φ
fraction évidée = largeur de fente ÷ pas
f_x , f_y
facteurs de design, sans dimension (droites = 1 par construction)
w
priorité, de 0 (conduction seule) à 1 (anisotropie seule)

Étape 1 — Conductivité de départ du film

Si la correction d'effet de taille est activée, la conductivité du catalogue est d'abord rabattue :

(1)k_eff = k · t_f / (t_f + Λ)
Pourquoi cette formule

C'est la règle de Matthiessen appliquée au transport de chaleur. Deux mécanismes gênent indépendamment les phonons : les collisions internes au matériau (parcours moyen Λ) et les rebonds sur les faces du film (parcours limité à t_f). Les taux de collision s'ajoutent, donc les inverses des longueurs s'ajoutent : 1/Λ_eff = 1/Λ + 1/t_f, soit Λ_eff = Λ·t_f/(Λ + t_f). Comme la conductivité est proportionnelle au libre parcours moyen, le rapport k_eff/k vaut exactement Λ_eff/Λ = t_f/(t_f + Λ), ce qui est (1).

La longueur caractéristique retenue est l'épaisseur du film seule, sans la comparer à la paroi résiduelle entre deux fentes comme le fait le simulateur d'anisotropie. C'est justifié par le domaine balayé : la paroi y vaut au minimum 500 − 200 = 300 µm, soit trois ordres de grandeur au-dessus d'un film typique. Elle ne peut donc jamais être le facteur limitant.

Domaine de validité

Sous 5 nm d'épaisseur, l'hypothèse de transport diffusif qui sous-tend (1) n'est plus défendable — le transport devient bidimensionnel ou balistique. L'outil applique quand même la correction, mais l'annonce : substituer silencieusement un autre modèle serait pire.

Étape 2 — La base analytique lamellaire

Pour une fraction évidée φ donnée, le motif est d'abord traité comme un empilement infini de bandes alternées, matière puis fente :

(2)φ = largeur de fente / pas k_xx⁰ = (1 − φ)·k_eff + φ·k_gap ← bandes en parallèle k_yy⁰ = 1 / [ (1 − φ)/k_eff + φ/k_gap ] ← bandes en série
Pourquoi cette formule

Ce ne sont pas des approximations : pour un composite lamellaire infini, ce sont les solutions exactes. Le long des bandes, matière et fente conduisent côte à côte et les conductances s'ajoutent au prorata des largeurs — moyenne arithmétique. En travers, la chaleur doit traverser l'une puis l'autre et ce sont les résistances qui s'ajoutent — moyenne harmonique. Ce sont aussi les bornes de Wiener : aucune microstructure de même φ ne peut dépasser k_xx⁰ ni descendre sous k_yy⁰.

Cette base a été préférée au solveur numérique comme socle du balayage précisément parce qu'elle reste exacte aux petits φ, là où le solveur, lui, devient sensible à la résolution : une fente fine n'y occupe que quelques mailles et sa barrière est sous-estimée. Le balayage descendant à φ = 0,06, c'était disqualifiant.

Étape 3 — Les facteurs de design, calibrés au solveur

La base (2) ne fait aucune différence entre des fentes droites, coniques, en chevrons ou un réseau hexagonal — elle ne connaît que φ. La différenciation vient d'une calibration menée une seule fois, au lancement du balayage, sur le solveur numérique complet (volumes finis + sur-relaxation, le même moteur que le simulateur d'anisotropie) :

(3)pour φᵢ ∈ {0,06 ; 0,14 ; 0,22 ; 0,30 ; 0,40} , pas = 1000 µm , résolution 60 f_x(design, φᵢ) = k_xx^num(design, φᵢ) / k_xx^num(droites, φᵢ) borné à [0,20 ; 2] f_y(design, φᵢ) = k_yy^num(design, φᵢ) / k_yy^num(droites, φᵢ) borné à [0,05 ; 2]

Soit 5 valeurs de φ × 4 designs × 2 directions = 40 résolutions du solveur, mises en cache côté serveur et indexées sur le couple (conductivité du film, conductivité de fente).

Pourquoi un rapport, et pas la valeur absolue

Le solveur a un biais de résolution connu et systématique : il sous-estime l'effet barrière d'une fente qui ne couvre que quelques mailles. Ce biais dépend surtout de φ et de la grille — donc il est très largement commun au design testé et à la référence « droites » calculée au même φ sur la même grille. En prenant le rapport des deux, il se simplifie. On conserve ainsi l'information qu'on cherche — de combien ce motif diffère de la référence — sans hériter de l'imprécision qui rendrait la valeur absolue peu défendable. C'est aussi pourquoi « droites » vaut 1 par construction : c'est le mètre-étalon, pas un design comme les autres.

Si le solveur échoue, l'outil retombe sur une table de facteurs calibrée hors ligne plutôt que d'interrompre le balayage. Entre les 5 points de calibration, les facteurs sont interpolés linéairement en φ, et maintenus constants au-delà des bornes.

Étape 4 — La métrique d'une combinaison

(4)k_xx = k_xx⁰(φ) · f_x(design, φ) k_yy = k_yy⁰(φ) · f_y(design, φ) A = k_xx / k_yy ← anisotropie

C'est cette opération — trois multiplications — qui est répétée 1 008 fois, d'où l'instantanéité du balayage.

Étape 5 — Le domaine balayé

(5)largeur de fente : 90 → 200 µm par pas de 10 → 12 valeurs pas : 500 → 1500 µm par pas de 50 → 21 valeurs designs : droites, coniques, herringbone, hexagonal → 4 combinaisons = 12 × 21 × 4 = 1008 (exclusion φ ≥ 0,95 : jamais atteinte ici)

Étape 6 — La figure de mérite

Il faut désormais classer ces 1 008 points selon deux objectifs antagonistes. C'est le rôle de la figure de mérite F, que l'outil maximise :

(6)F = ( k_xx / k_xx,max )^(1−w) · ( log₁₀A / log₁₀A_max )^w k_xx,max , A_max = maxima observés sur le balayage courant w = curseur de priorité (0,45 par défaut)
Pourquoi cette formule

Deux termes normalisés. Chacun est ramené à son maximum sur le balayage, donc compris entre 0 et 1 : on compare deux grandeurs sans dimension au lieu d'additionner des W/m·K avec un rapport pur, ce qui n'aurait pas de sens.

Un produit, pas une somme. C'est une moyenne géométrique pondérée. Sa propriété décisive : si l'un des deux termes tend vers zéro, le produit tend vers zéro. Une configuration à l'anisotropie spectaculaire mais qui ne conduit plus rien obtient donc un score nul — le comportement souhaité. Une moyenne arithmétique, elle, l'aurait classée en tête sur la seule force de son second terme.

Un logarithme sur l'anisotropie. Sur le domaine balayé, k_xx varie d'un facteur 2 environ, tandis que l'anisotropie couvre deux à quatre décades. Sans log, le second terme écraserait totalement le premier et la figure de mérite ne désignerait jamais que le coin « fentes les plus larges possible », quel que soit le réglage de priorité.

Les garde-fous. Les bases sont plancherées à 1 (k_xx et A) et le dénominateur du log à 10, pour qu'aucune puissance fractionnaire ne s'applique à un nombre négatif et qu'aucun logarithme ne s'annule.

La préconisation principale est cherchée parmi les fentes droites uniquement. Ce n'est pas un oubli : à conduction égale, les motifs coniques et herringbone ne gagnent en anisotropie que par un effet géométrique — leur géométrie non uniforme resserre localement φ — sans gain réel de conduction. Les retenir comme préconisation reviendrait à recommander une complexité de gravure pour un avantage qui n'en est pas un. Les quatre designs restent balayés, et le tableau « meilleure config par design » les affiche tous, chacun à son propre optimum.

Étape 7 — Le passage au système film + substrat

Les formules sont exactement celles du simulateur d'anisotropie, appliquées à la seule configuration préconisée :

(7)K_xx = (k_xx·t_f + k_sx·t_s) / (t_f + t_s) K_yy = (k_yy·t_f + k_sy·t_s) / (t_f + t_s) rainurage substrat, fraction f : k_sx = (1 − f)·k_sub + f·k_gap k_sy = 1 / [ (1 − f)/k_sub + f/k_gap ] dilution = (k_xx / k_yy) / (K_xx / K_yy)
Pourquoi cette formule

Film et substrat sont deux nappes conductrices accolées : latéralement, elles conduisent en parallèle, chacune apportant sa conductance k·t. Diviser la somme par l'épaisseur totale reconvertit le tout en une conductivité équivalente comparable à celle du film seul. C'est aussi ce qui explique la dilution : avec t_f de quelques centaines de nanomètres et t_s de l'ordre du millimètre, le terme du substrat pèse des milliers de fois plus, et la belle anisotropie du film disparaît dans la moyenne. Le rainurage du substrat existe précisément pour rendre le substrat lui-même anisotrope, seule manière de faire remonter K_xx/K_yy.

Un avertissement s'affiche dès que l'anisotropie système passe sous ×3 : en dessous, la géométrie du film ne se voit tout simplement plus à l'échelle de la puce, et le choix du motif devient secondaire par rapport à l'épaisseur du substrat.

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Nota bene — capacité calorifique et résistances d'interface

Nota bene

Deux questions reviennent régulièrement au sujet des matériaux déposés : où intervient leur capacité calorifique, et que fait-on des résistances thermiques d'interface. Réponses en clair, avec les hypothèses effectivement retenues dans les trois outils thermiques.

1 · La capacité calorifique des couches déposées

C'est le régime qui décide. En régime permanent, la capacité calorifique n'a aucun effet : une fois le champ de température stabilisé, seule la conductivité fixe la répartition de la chaleur. En régime transitoire, au contraire, c'est elle qui, avec la conductivité, fixe la diffusivité thermique α = k/(ρ·c_p) et donc la vitesse d'évolution de la température.

Les trois outils se répartissent donc ainsi :

OutilRégimeρ·c_p du film
Balayage paramétriquepermanentn'intervient pas
Simulateur d'anisotropie thermiquepermanentn'intervient pas
Comparateur de diffusion thermiquetransitoireintervient explicitement

Pour cet outil-ci comme pour le simulateur d'anisotropie, ce n'est donc pas un oubli ni une intégration implicite : les deux résolvent une équation — ∇·(k∇T) = 0 — où ρ·c_p n'apparaît pas, et ne portent d'ailleurs pas ces champs dans leurs paramètres. Le catalogue matériaux commun aux trois outils renseigne bien ρ et c_p pour chaque matériau, mais seul le comparateur de diffusion les consomme.

Où ρ·c_p intervient, et comment

Dans le comparateur de diffusion, la capacité entre par la diffusivité effective du système film + substrat :

NB-1(ρc)_film = ρ · c_p · (1 − ψ) ψ = φ · profondeur de gravure (ρc)_sys = [ (ρc)_film·t_f + (ρc)_sub·t_s ] / (t_f + t_s) α_eff = K_xx / (ρc)_sys

Deux hypothèses explicites y sont faites sur les couches déposées. D'abord, la fraction ablatée du film ne stocke rien : le milieu de fente (air, vide, aérogel) est considéré sans capacité utile à ces échelles, d'où le facteur (1 − ψ). Ensuite, ρ et c_p sont pris à 300 K et constants — aucune dépendance en température n'est modélisée.

Les valeurs proviennent du catalogue serveur partagé :

Matériauρ (kg/m³)c_p (J/kg·K)Statut de la donnée
Ginestium™2 100710substitut — carbone pyrolytique synthétique orienté à 300 K ; pas une mesure Ginestium™
Graphène CVD few-layer2 200700littérature
Diamant CVD nanocristallin3 400536mesuré sur film NCD à 302 K
Cuivre (témoin)8 960385littérature, cuivre massif
Substratsaisi par l'utilisateur (défauts 3 900 / 880)

Un matériau « personnalisé » n'a ni ρ ni c_p : dans ce cas le comparateur renvoie explicitement « pas de diffusivité » plutôt que de deviner une valeur.

La limite qu'il faut connaître

La pondération par les épaisseurs écrase la contribution du film. Avec les réglages par défaut du comparateur — Ginestium™ 400 nm sur 10 µm de substrat — le film ne pèse que ≈ 1,6 % de la capacité du système ; portez le substrat à 2 mm et sa part tombe sous 0,01 %. La diffusivité effective est donc, en pratique, « la conductivité latérale du système divisée par la capacité du substrat ».

Conséquence directe : le front de diffusion est très peu sensible au c_p du film. Non pas parce qu'on le néglige — il est bien dans la formule — mais parce que la géométrie de l'empilement lui laisse peu de poids. Le film pèse par son k·t, au numérateur, bien plus que par sa capacité au dénominateur.

2 · Les résistances thermiques d'interface

Elles ne sont pas ignorées, mais leur prise en compte est partielle et hors-plan uniquement.

Ce qui existe. Le simulateur d'anisotropie et le comparateur de diffusion exposent tous deux un paramètre R_th interface (0 à 100 ×10⁻⁶ m²·K/W, 10 par défaut), qui entre en série dans la résistance hors-plan :

NB-2R_z = t_f / k_z + R_th,if + t_s / k_sub

Il s'agit d'une seule interface globale film / substrat. Le modèle géométrique ne comporte que deux couches : il n'y a ni empilement multicouche avec une résistance par interface, ni résistance latérale entre grains ou entre motifs.

Un ordre de grandeur utile : pour le graphène (k_z = 6 W/m·K sur 1,675 nm), le terme de film vaut ≈ 3×10⁻¹⁰ m²·K/W, cinq ordres de grandeur sous la résistance d'interface typique. Dans R_z, ce sont toujours l'interface et le substrat qui dominent, jamais le film.

Ce qui est négligé, et c'est une hypothèse assumée. R_th,if n'entre ni dans l'homogénéisation k_xx/k_yy, ni dans K_xx, ni donc dans la diffusivité α_eff du front de diffusion latéral. Le comparateur l'affiche d'ailleurs explicitement sous le curseur concerné. Quant au balayage paramétrique — l'outil décrit par ce guide — il ne porte aucune résistance d'interface : c'est un outil purement dans le plan du film.

Pourquoi c'est défendable, et où ça casse

Pour un transport latéral, la résistance d'interface n'est pas une résistance en série sur le chemin de la chaleur : c'est un couplage entre deux chemins parallèles, le film et le substrat. La négliger revient exactement à supposer un couplage parfait selon z — film et substrat à la même température locale à chaque abscisse, ce qu'on appelle l'hypothèse de plaque équivalente. C'est cohérent pour les épaisseurs et les durées d'observation visées.

Le régime où elle casse est identifiable : temps courts, ou film très conducteur sur substrat peu conducteur. Le film y prendrait de l'avance sur le substrat au lieu de le tirer avec lui — un effet que le modèle ne peut pas voir. Si votre cas s'en approche, la sensibilité au paramètre R_th interface se teste dans le simulateur d'anisotropie, mais sur la seule R_z hors-plan.

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Petit glossaire des unités

W/m·K conductivité thermique — watts transportés par mètre de matière et par kelvin d'écart µm, nm micromètre (10⁻⁶ m), nanomètre (10⁻⁹ m) — fentes et pas en µm, épaisseur de film en nm φ fraction évidée, sans unité — largeur de fente divisée par le pas × les anisotropies et dilutions sont des rapports, sans unité (× 250 = « deux cent cinquante fois ») m²·K/W résistance thermique surfacique — l'échauffement produit par chaque watt et par m² de surface traversée